《Iet Circuits Devices & Systems》杂志影响录用的因素有哪些？

《Iet Circuits Devices & Systems》杂志是一本专注于工程技术领域的高质量期刊，该杂志的录用率受多种因素影响，想具体了解可联系杂志社或咨询在线客服。

《Iet Circuits Devices & Systems》杂志的录用率受多种因素影响，具体如下：

年发文量：《Iet Circuits Devices & Systems》杂志年发文量为：26篇。年发文量较大的期刊，相对而言录用率会高一些。

质量与创新性：论文的科学性、严谨性、数据可靠性以及创新性是关键。

期刊分区：《Iet Circuits Devices & Systems》杂志在中科院的分区为4区，而在JCR的分区为Q4。

论文质量：包括研究设计的合理性、数据的可靠性、分析方法的科学性等。

影响力与排名：《Iet Circuits Devices & Systems》杂志IF影响因子为：1。高影响力的期刊通常对论文质量要求更高，录用率相对较低。

审稿流程：严格的多轮审稿流程会筛选掉部分稿件，导致录用率下降。

投稿数量：在特定时期内，若大量研究者集中向某期刊投稿，会导致稿件堆积，录用率下降。

SCI期刊的录用率受多重因素影响，作者应根据自身研究特点选择合适的期刊，并确保稿件质量以提高录用机会，投稿前务必仔细阅读期刊的投稿指南，并与杂志社保持良好沟通。

《Iet Circuits Devices & Systems》杂志简介

中文简称：集成电路设备和系统
国际标准简称：IET CIRC DEVICE SYST
出版商：Wiley
出版周期：Bi-monthly
出版年份：2007年
出版地区：ENGLAND
ISSN：1751-858X
ESSN：1751-8598
研究方向：工程技术 - 工程：电子与电气

IET 电路、器件与系统涵盖以下主题：

电路理论与设计、电路分析与仿真、计算机辅助设计

滤波器（模拟和开关电容器）

电路实现、单元和集成架构（包括 VLSI）

可测试性、容错设计、电路最小化和 VLSI 的 CAD

用于传统和新兴技术（包括纳米电子学和 MEM）的新型或改进电子设备

器件和工艺特性、器件参数提取方案

电路和系统理论的数学

涉及电子电路、工业应用电路、传感器和换能器的测试和测量技术

在中科院分区表中，大类学科为工程技术4区， 小类学科为ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：电子与电气4区。

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