摘要：系统芯片的设计方法为测试技术带来新挑战。知识产权模块（IP核）测试访问机制成为测试复用的关键。构建IP核透明路径会对电路的故障覆盖率产生影响。基于门级透明路径的构建方法，通过分析插入电路的控制门和多路器的激活和传播条件，对路径构建对于IP核单固定型故障覆盖率的影响进行分析，给出可测性条件和故障覆盖率的计算公式，无需故障仿真即可估计构造透明路径后电路的故障覆盖率。通过故障仿真实验，证明该故障覆盖率的分析和计算方法是有效的。