摘要：根据X射线照相曝光曲线的技术特点,形成了X射线照相技术的检测参数系统全景设计。在全景设计图上可以进行设备的选用及性能比较,确定具体的透照参数,预设底片黑度结果,明确具体工艺的影像清晰度。提出了'球锥场'与'圆锥场'结合的分析方法,以全景设计图为基础可以开发检测参数分析软件,实现不同厚度工件的组合检测。