摘要：本研究提出基于线性扫频激励洛伦兹力电阻抗成像理论,搭建了基于Verasonics磁声电导率检测平台,同时将线性扫频技术,混频及B模式扫描算法应用于电导率变化区域界面检测中,并对0.5%NaCl均匀仿体进行实验,验证了线性扫频理论应用于本系统的正确性,清晰获得仿体电导率曲线,测得均匀仿体电导率B模式扫描图与超声B模式图及实际测量值一致,此外,本研究还探讨了探头类型及扫频时宽对成像效果影响。