摘要：以金丝楸（Catalpa bungei C.A.Mey）为试材,在抗寒锻炼期间分析其茎和叶的电阻抗图谱（electrical impedance spectroscopy,EIS）、可溶性糖含量及细胞膜透性。将茎和叶的EIS参数分别与相应的可溶性糖含量进行线性和非线性回归分析,选取最佳EIS参数构建估测模型,并对模型的精度进行检验,同时,用电阻抗图谱法和电解质渗出率法对金丝楸的抗寒性进行测定。结果表明：1）随着抗寒锻炼的进程,金丝楸茎和叶的可溶性糖含量均呈上升趋势。2）抗寒锻炼期间,金丝楸茎的EIS单弧逐渐变大,弧顶电抗值呈现下降趋势。叶的EIS单弧先变大后变小,弧顶电抗值呈现先减小后增大的趋势。3）金丝楸茎高频电阻率r为估测茎可溶性糖含量的最佳EIS参数,叶弛豫时间分布系数ψ为估测叶可溶性糖含量的最佳EIS参数,分别构建最佳估测模型r=-0.0177x2＋0.889x＋8.5912和ψ=0.0068x3-0.2023x2＋1.2192x＋18.4860,对模型进行检验,预测精度分别达到91.62%和81.06%。4）采用电解质渗出率法与高频电阻率r和弛豫时间分布系数ψ测定的茎和叶的抗寒性较为接近,平均绝对误差值分别为3.01和2.83。