《Ieee Transactions On Components Packaging And Manufacturing Technology》杂志的收稿范围和要求是什么?

来源:优发表网整理 2026-07-07 16:34:16 967人看过

《Ieee Transactions On Components Packaging And Manufacturing Technology》杂志收稿范围涵盖工程技术全领域,此刊是该细分领域中属于非常不错的SCI期刊,在行业细分领域中学术影响力较大,专业度认可很高,所以对原创文章要求创新性较高,如果您的文章质量很高,可以尝试。

平均审稿速度一般,3-6周,影响因子指数3.3。

该期刊近期没有被列入国际期刊预警名单,广大学者值得一试。

具体收稿要求需联系杂志社或者咨询本站客服,在线客服团队会及时为您答疑解惑,提供针对性的建议和解决方案。

出版商联系方式:445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141

其他数据

是否OA开放访问: h-index: 年文章数:
未开放 39 296
Gold OA文章占比: 2021-2022最新影响因子(数据来源于搜索引擎): 开源占比(OA被引用占比):
3.65% 3.3 0.09...
研究类文章占比:文章 ÷(文章 + 综述) 期刊收录: 中科院《国际期刊预警名单(试行)》名单:
100.00% SCI、SCIE

历年IF值(影响因子):

历年引文指标和发文量:

历年中科院JCR大类分区数据:

历年自引数据:

发文统计

2023-2024国家/地区发文量统计:

国家/地区 数量
USA 226
CHINA MAINLAND 208
Taiwan 71
South Korea 51
GERMANY (FED REP GER) 49
India 47
Japan 46
Canada 40
England 24
France 22

2023-2024机构发文量统计:

机构 数量
UNIVERSITY SYSTEM OF GEORGIA 49
KOREA ADVANCED INSTITUTE OF SCIE... 26
INTEL CORPORATION 21
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY S... 20
AUBURN UNIVERSITY SYSTEM 18
HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY 18
SOUTH CHINA UNIVERSITY OF TECHNO... 15
SOUTHEAST UNIVERSITY - CHINA 15
UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM 15
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES 14

近年引用统计:

期刊名称 数量
IEEE T COMP PACK MAN 675
IEEE T MICROW THEORY 344
IEEE MICROW WIREL CO 171
MICROELECTRON RELIAB 120
IEEE T ELECTROMAGN C 114
IEEE T POWER ELECTR 109
IEEE T ANTENN PROPAG 87
INT J HEAT MASS TRAN 86
IEEE T ELECTRON DEV 81
ELECTRON LETT 60

近年被引用统计:

期刊名称 数量
IEEE T COMP PACK MAN 675
IEEE ACCESS 272
INT J HEAT MASS TRAN 150
IEEE T MICROW THEORY 123
MICROELECTRON RELIAB 98
APPL THERM ENG 81
J MATER SCI-MATER EL 77
J ELECTRON PACKAGING 71
IET MICROW ANTENNA P 69
IEEE T ELECTROMAGN C 57

近年文章引用统计:

文章名称 数量
A Study on the Optimization of A... 13
Design and Packaging of an Eye-S... 12
Device-Level Thermal Management ... 11
SMT Solder Joint Inspection via ... 10
Direct-Acting Piezoelectric Jet ... 10
Wire Defect Recognition of Sprin... 10
Inkjet Printing of Wideband Stac... 10
The Effect of Solder Joint Micro... 9
Stochastic Collocation With Non-... 9
Defect Detection in Electronic S... 8

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