《Microelectronics Reliability》杂志的收稿范围和要求是什么？
来源：优发表网整理 2026-07-07 16:30:47 968人看过
《Microelectronics Reliability》杂志收稿范围涵盖工程技术全领域，此刊是该细分领域中属于非常不错的SCI期刊，在行业细分领域中学术影响力较大，专业度认可很高，所以对原创文章要求创新性较高，如果您的文章质量很高，可以尝试。
平均审稿速度较快,2-4周，影响因子指数2.5。
该期刊近期没有被列入国际期刊预警名单，广大学者值得一试。
具体收稿要求需联系杂志社或者咨询本站客服，在线客服团队会及时为您答疑解惑，提供针对性的建议和解决方案。
出版商联系方式：PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB
其他数据
| 是否OA开放访问： | h-index： | 年文章数： |
| 未开放 | 80 | 303 |
| Gold OA文章占比： | 2021-2022最新影响因子（数据来源于搜索引擎）: | 开源占比（OA被引用占比）： |
| 17.15% | 2.5 | 0.06... |
| 研究类文章占比：文章 ÷（文章 + 综述） | 期刊收录： | 中科院《国际期刊预警名单（试行）》名单： |
| 97.69% | SCI、SCIE | 否 |
历年IF值(影响因子)：
历年引文指标和发文量：
历年中科院JCR大类分区数据：
历年自引数据：
发文统计
近年引用统计：
| 期刊名称 | 数量 |
| MICROELECTRON RELIAB | 512 |
| IEEE T NUCL SCI | 360 |
| IEEE T ELECTRON DEV | 270 |
| J APPL PHYS | 142 |
| APPL PHYS LETT | 135 |
| IEEE T POWER ELECTR | 120 |
| IEEE ELECTR DEVICE L | 101 |
| IEEE T COMP PACK MAN | 98 |
| J ELECTRON MATER | 93 |
| IEEE T DEVICE MAT RE | 88 |
近年被引用统计：
| 期刊名称 | 数量 |
| MICROELECTRON RELIAB | 512 |
| IEEE T ELECTRON DEV | 235 |
| J MATER SCI-MATER EL | 205 |
| IEEE ACCESS | 197 |
| IEEE T COMP PACK MAN | 120 |
| IEEE T POWER ELECTR | 120 |
| J ELECTRON MATER | 103 |
| J ALLOY COMPD | 101 |
| IEEE T DEVICE MAT RE | 100 |
| ENERGIES | 87 |
近年文章引用统计：
| 文章名称 | 数量 |
| Comphy - A compact-physics frame... | 25 |
| An improved unscented particle f... | 25 |
| Threshold voltage peculiarities ... | 21 |
| Identification of oxide defects ... | 16 |
| Controversial issues in negative... | 13 |
| An Android mutation malware dete... | 13 |
| A review of NBTI mechanisms and ... | 12 |
| New dynamic electro-thermo-optic... | 12 |
| Measurement considerations for e... | 11 |
| Border traps and bias-temperatur... | 10 |
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