SrTiO3晶界层电容陶瓷的介电性能与晶粒大小的关系
作者： 湖北大学物理与电子科学学院; 湖北武汉430062; 贵州振华电子信息产业技术研究有限公司; 贵州贵阳550018
摘要：采用二次烧结法制备SrTiO3(STO)多晶陶瓷,研究瓷片介电性能与烧结温度和晶粒大小的关系.实验结果表明,STO晶粒尺寸随烧结的温度呈现先升高后下降的变化,相应的介电常数与晶粒变化类似,即随着温度升高先升后降.在保证还原性气体比例不变的条件下,STO瓷片的介电性能在1440℃烧结2h时达到最佳,介电常数为24000,损耗在0.02左右,温度系数小于20%.该结果基本达到Ⅲ类瓷技术标准,可广泛用于低频高介电路中.
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