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投稿《电子测试》需要什么条件?

来源:优发表网整理 2026-03-19 18:27:57 25244人看过

《电子测试》杂志是一本在工业研究领域具有一定影响力的学术期刊,由北京市科学技术研究院主管、北京自动测试技术研究所主办的期刊,创刊于1994年,国际标准刊号 ISSN:1000-8519,国内统一刊号 CN:11-3927/TN。

《电子测试》杂志投稿需要满足以下条件:

<一>摘要应包括目的、方法、结果和结论四个部分,其中中文摘要约300字,英文摘要约600-800字。关键词2至5个(中英文)。

<二>请在稿件上写明真实姓名、出生年月、工作单位、职称(务)、联系电话、通讯地址、邮政编码,以便联系,发表署名听便。

<三>其他未及事宜,若发生争议,双方将协商解决;若协商不成,则按照《中华人民共和国著作权法》和有关的法律法规处理。

<四>请勿一稿多投并杜绝学术不端行为。

<五>参考文献仅限作者亲自阅读过的主要文献,近3年的文献应占30%以上,近5年的文献应占50%以上,并应对照原文核实。

该杂志旨在推动工业理论与实践的创新与发展,为广大工业工作者、研究人员提供一个学术交流的平台,主要是探索工业规律,服务工业实践。通过发表高质量的工业研究成果,促进工业领域的学术交流与合作,为工业改革与发展提供理论支持和实践指导。

《电子测试》学术信息

影响因子:0.76

发文量:16286

总被引次数:19899

电子测试杂志学术成果

杂志学术成果

电子测试杂志年度被引次数报告

2010 2011 2012 2013 2014 2015 2016 2017 2018 2019 2020 2021 2022

本刊文章见刊的年份

2010 2009 2008 2007 2006 2005 2004 2003 2002 2001

在2010年的被引次数

11 95 101 46 4 3 1 0 0 0

被本刊自己引用的次数

3 24 18 8 0 0 0 0 0 0

被引次数的累积百分比

0.0414 0.3985 0.7782 0.9511 0.9662 0.9774 0.9812 0.9812 0.9812 0.9812

本刊文章见刊的年份

2011 2010 2009 2008 2007 2006 2005 2004 2003 2002

在2011年的被引次数

13 103 92 79 34 4 0 1 2 1

被本刊自己引用的次数

2 40 17 16 2 1 0 0 0 1

被引次数的累积百分比

0.0389 0.3473 0.6228 0.8593 0.9611 0.9731 0.9731 0.976 0.982 0.985

本刊文章见刊的年份

2012 2011 2010 2009 2008 2007 2006 2005 2004 2003

在2012年的被引次数

12 86 67 67 74 22 2 4 0 1

被本刊自己引用的次数

1 19 12 10 7 1 0 2 0 0

被引次数的累积百分比

0.0353 0.2882 0.4853 0.6824 0.9 0.9647 0.9706 0.9824 0.9824 0.9853

本刊文章见刊的年份

2013 2012 2011 2010 2009 2008 2007 2006 2005 2004

在2013年的被引次数

81 60 84 63 65 63 28 4 3 4

被本刊自己引用的次数

22 13 10 8 6 3 4 0 0 0

被引次数的累积百分比

0.1769 0.3079 0.4913 0.6288 0.7707 0.9083 0.9694 0.9782 0.9847 0.9934

本刊文章见刊的年份

2014 2013 2012 2011 2010 2009 2008 2007 2006 2005

在2014年的被引次数

96 398 74 80 49 60 58 26 1 1

被本刊自己引用的次数

3 16 3 1 1 1 2 0 0 0

被引次数的累积百分比

0.1128 0.5805 0.6675 0.7615 0.819 0.8895 0.9577 0.9882 0.9894 0.9906

本刊文章见刊的年份

2015 2014 2013 2012 2011 2010 2009 2008 2007 2006

在2015年的被引次数

100 370 496 55 76 51 61 57 26 2

被本刊自己引用的次数

2 14 9 2 1 0 0 1 0 0

被引次数的累积百分比

0.077 0.3618 0.7436 0.786 0.8445 0.8838 0.9307 0.9746 0.9946 0.9962

本刊文章见刊的年份

2016 2015 2014 2013 2012 2011 2010 2009 2008 2007

在2016年的被引次数

258 393 453 497 47 70 42 51 32 16

被本刊自己引用的次数

17 6 10 9 1 1 1 2 0 1

被引次数的累积百分比

0.1385 0.3494 0.5926 0.8594 0.8846 0.9222 0.9447 0.9721 0.9893 0.9979

本刊文章见刊的年份

2017 2016 2015 2014 2013 2012 2011 2010 2009 2008

在2017年的被引次数

170 871 427 385 440 55 73 45 32 38

被本刊自己引用的次数

2 25 8 4 5 3 0 0 0 0

被引次数的累积百分比

0.0662 0.4055 0.5719 0.7219 0.8933 0.9147 0.9431 0.9607 0.9731 0.9879

本刊文章见刊的年份

2018 2017 2016 2015 2014 2013 2012 2011 2010 2009

在2018年的被引次数

154 653 792 340 362 333 36 61 37 22

被本刊自己引用的次数

8 10 18 10 5 2 1 1 1 0

被引次数的累积百分比

0.0542 0.2843 0.5632 0.683 0.8105 0.9278 0.9405 0.962 0.975 0.9827

本刊文章见刊的年份

2019 2018 2017 2016 2015 2014 2013 2012 2011 2010

在2019年的被引次数

308 686 671 585 271 233 251 41 36 25

被本刊自己引用的次数

14 27 15 19 5 3 1 0 2 1

被引次数的累积百分比

0.0971 0.3134 0.5249 0.7093 0.7948 0.8682 0.9474 0.9603 0.9716 0.9795

本刊文章见刊的年份

2020 2019 2018 2017 2016 2015 2014 2013 2012 2011

在2020年的被引次数

311 703 583 392 384 162 128 153 25 24

被本刊自己引用的次数

10 18 19 7 10 3 1 4 2 1

被引次数的累积百分比

0.106 0.3455 0.5441 0.6777 0.8085 0.8637 0.9073 0.9595 0.968 0.9761

本刊文章见刊的年份

2021 2020 2019 2018 2017 2016 2015 2014 2013 2012

在2021年的被引次数

341 835 606 391 273 227 127 98 106 15

被本刊自己引用的次数

9 29 20 11 5 3 2 2 0 1

被引次数的累积百分比

0.1099 0.379 0.5743 0.7003 0.7883 0.8614 0.9024 0.9339 0.9681 0.9729

本刊文章见刊的年份

2022 2021 2020 2019 2018 2017 2016 2015 2014 2013

在2022年的被引次数

149 726 624 403 255 200 166 80 69 92

被本刊自己引用的次数

1 25 16 14 5 4 1 2 3 1

被引次数的累积百分比

0.0525 0.3081 0.5278 0.6697 0.7595 0.8299 0.8884 0.9165 0.9408 0.9732

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电子测试杂志,半月刊,本刊重视学术导向,坚持科学性、学术性、先进性、创新性,刊载内容涉及的栏目:设计与研发、虚拟仪器技术、微处理器与编程器件的应用等。于1994年经新闻总署批准的正规刊物。

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