摘要：为对绝缘子运行状态进行检测，提出一种将单一像素点属性判断和局部均值法相结合的二值化算法。利用各像素点灰度值的局部均值作为参考阈值对原灰度图进行第1次分割，初步划分目标点和背景点，得到绝缘子大致的边缘轮廓。通过各像素点的局部特征，即区域像素值的波动幅度、区域的整体亮度判断其属性，以此为标准对第1次分割后的图像进行二次处理，得到更精确的二值图像。实验结果表明，与OTSU，Wellner等算法相比，该算法能对灰度非均匀的绝缘子图像进行准确分割，具有较快的运算速度和较好的鲁棒性。