基于错误控制编码的差值扩展可逆数字水印
作者:彭德云; 王嘉祯 军械工程学院计算机工程系; 石家庄050003
摘要:可逆数字水印能在水印提取后将含印载体恢复到无失真的原始状态。Tian的基于差值扩展隐藏算法是目前容量最高但含印载体质量偏低的可逆隐藏算法。针对Tian中过度修改像素对值造成含印图像质量不必要下降问题,该文提出了基于错误控制编码的差值扩展可逆数字水印算法。该算法将像素对仅分为Ⅰ,Ⅱ两类。嵌入、提取及恢复过程对称,实现相对简单,含印图像质量在容载较低时得到很大提高。
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