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片式电阻防硫化可靠性技术研究

作者:张世莉; 唐万军; 肖玲 中国电子科技集团公司第二十四研究所; 重庆400060

摘要:针对某模块产品中片式电阻出现硫化失效问题,通过对片式电阻硫化的机理研究,结合高可靠非封闭结构产品及使用环境要求,开展了多种质量等级电阻、工艺方案、工艺材料的耐硫化环境试验。通过多组试验的对比,提出了非封闭结构产品中片式电阻防硫化的可靠性技术解决方案。

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环境技术

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国际刊号:1004-7204

国内刊号:44-1325/X

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